Precisiones técnicas y contractuales

Definiciones y condiciones de aplicación

¿Qué se entiende por «detección de microfisuras superficiales»?

Se considera microfisura toda discontinuidad lineal en la superficie del material cuya anchura de apertura sea igual o superior a 0,5 µm y cuya longitud supere las 5 µm, siempre que el contraste óptico entre la fisura y el fondo del material permita su segmentación mediante los algoritmos de procesamiento implementados. Quedan excluidas las marcas de mecanizado, rayas de arrastre y poros cerrados que no presenten una relación de aspecto mínima de 3:1.

¿Cuál es el alcance de la inspección dimensional en perfiles extrudidos?

El sistema mide espesores de pared, ángulos internos y externos, y radios de acuerdo en perfiles de aluminio de hasta 12 m de longitud. La precisión declarada de ±10 µm se refiere a mediciones repetibles en condiciones de laboratorio (temperatura 20 °C ± 1 °C, humedad relativa 45 % ± 5 %). En entorno de producción, la incertidumbre puede aumentar hasta ±15 µm debido a vibraciones de la línea y dilatación térmica del material, aspecto que el sistema compensa mediante un módulo de calibración automática por termopar de contacto.

¿Qué normativa aplica a la clasificación de defectos en fundiciones?

La clasificación de poros e inclusiones se realiza conforme a la norma ASTM E125, utilizando las cartas de referencia para fundiciones grises y nodulares. El sistema distingue entre poros abiertos (comunicados con la superficie) y poros cerrados (subsuperficiales), siempre que el diámetro equivalente supere las 50 µm. Los defectos lineales o agrupaciones de poros que excedan el grado 3 de la norma se reportan como no conformes. La tasa de falsos positivos se mantiene por debajo del 2 % tras la validación estadística de cada lote.

¿Cómo se garantiza la velocidad de inspección en líneas de alta velocidad?

El sistema emplea cámaras lineales con resolución de 4096 píxeles y frecuencia de línea de hasta 80 kHz, acopladas a iluminación coaxial LED de alta potencia. El procesamiento se realiza en FPGA con pipeline de 5 etapas, lo que permite inspeccionar superficies a velocidades lineales de hasta 2 m/s sin pérdida de cuadros. La latencia total desde la captura hasta la señal de rechazo es inferior a 12 ms, compatible con los tiempos de ciclo de líneas de producción de semiconductores y fundición.

Inspección óptica de alta velocidad

Sistemas lineales para control dimensional y detección de microfisuras en producción continua.

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